MultiProf

Multi-Profile粗糙度分析

表面變化似乎困擾著幾乎每一個(gè)涉及表面紋理測(cè)量的行業(yè)。在許多情況下，給定表面內(nèi)的變化超過了該表面的整個(gè)規(guī)格范圍。在這種情況下，經(jīng)常需要進(jìn)行多次測(cè)量并報(bào)告表面紋理參數(shù)的平均值。
Digital Metrology Solutions 在處理表面變化和多次測(cè)量方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)。然而，許多表面紋理儀器制造商沒有這樣的經(jīng)驗(yàn)，因此他們?cè)谶@方面是沒有有用的工具來幫助用戶的。
大多數(shù)表面紋理測(cè)量系統(tǒng)都是圍繞單個(gè)測(cè)量所開發(fā)的。但是現(xiàn)在…

MultiProf多剖面表面紋理分析軟件包的介紹

MultiProf是一個(gè)32位Windows應(yīng)用程序，可以與多種表面紋理測(cè)量?jī)x器接口，并提供多達(dá)4個(gè)同步剖面分析。此外，參數(shù)的平均值以易于閱讀的格式提供。

MultiProf軟件包的構(gòu)建考慮到了工作時(shí)的情況。簡(jiǎn)單的電子表格風(fēng)格的界面允許對(duì)單個(gè)剖面進(jìn)行直觀的選擇，并且顯示器提供了測(cè)量值之間變化的快速可視化表示。在“聯(lián)機(jī)”模式下，當(dāng)概要測(cè)量完成時(shí)，選擇矩形自動(dòng)增加到下一個(gè)概要字段。一旦在第一個(gè)字段中進(jìn)行了新的測(cè)量(表示一個(gè)新的工件)，就可以自動(dòng)導(dǎo)出結(jié)果，并自動(dòng)清除以前的數(shù)據(jù)集。

包裝不代表一切

在用戶界面之下，MultiProf提供了強(qiáng)大的分析能力。 例如，新的ISO 13565過濾和參數(shù)包括在標(biāo)準(zhǔn)分析方法中。 此外，計(jì)算結(jié)果(對(duì)于單個(gè)測(cè)量以及平均值)可以在測(cè)量周期完成后自動(dòng)導(dǎo)出到電子表格中，用于SPC或其他存檔目的。

注意:這個(gè)版本的MultiProf包含了為平臺(tái)珩磨量身定制的分析工具，但是MultiProf應(yīng)用程序可以很容易地進(jìn)行定制，以適應(yīng)其他可能更適合于其他應(yīng)用程序的參數(shù)集。

連接MultiProf

漂亮的外觀和強(qiáng)大的分析能力可能很重要，但是如果它們不能很容易地集成到測(cè)量系統(tǒng)中，那么它們就沒有多大價(jià)值。在開發(fā)MultiProf的過程中，Digital Metrology 考慮到了這些因素，其結(jié)果是一個(gè)包可以通過多種方式“連接”到您現(xiàn)有的測(cè)量系統(tǒng)。MultiProf參與測(cè)量過程的范圍可以從獨(dú)立運(yùn)行(沒有操作員干預(yù))到直接控制儀器。以下是一些可用的接口方法:

:: Windows 窗口– MultiProf可以從現(xiàn)有的儀器軟件中自動(dòng)導(dǎo)入測(cè)量的剖面，只需從現(xiàn)有軟件中保存剖面(以已知的格式和位置)，MultiProf可以自動(dòng)將文件加載到當(dāng)前測(cè)量位置。

:: 串行端口訪問– MultiProf可以容納來自多個(gè)常用剖面測(cè)量?jī)x器的串口接口。在許多情況下，MultiProf實(shí)際上可以通過串口控制測(cè)量過程，將測(cè)量過程轉(zhuǎn)換為一個(gè)簡(jiǎn)單的按鍵。

:: 直接硬件訪問– 一些(特別是較老的)工具不提供對(duì)概要數(shù)據(jù)的文件或串行端口訪問。通常可以用另一種硬件替代方法來訪問這些數(shù)據(jù)。雖然這可能涉及到特殊的數(shù)據(jù)采集硬件，MultiProf完全能夠集成這些功能。這種接口方法的最終是一個(gè)完全升級(jí)的測(cè)量工具，能夠提供定制的、多剖面分析。(有關(guān)地面測(cè)量?jī)x器硬件升級(jí)的更多信息，請(qǐng)參閱升級(jí)部分。)

厭倦手動(dòng)處理多個(gè)剖面?

請(qǐng)與Digital Metrology Solutions討論如何將MultiProf應(yīng)用于您的表面紋理測(cè)量應(yīng)用程序。
畢竟，沒必要一個(gè)人手動(dòng)執(zhí)行計(jì)算機(jī)可以自動(dòng)完成的任務(wù)